A 半導體積體電路測試概論第十四章閂鎖效應 - 白安鵬--半導體積體 ... 2009年1月26日 ... 閂鎖現象，可以藉由寄生性矽控整流器的電性參數來控制。以便保證所設計的電路， 在額定的操作範圍內，不會進入高度導通狀態。因此，寄生性矽控 ...
CMOS闩锁效应_百度文库 2010年9月26日 ... 该结构具有如图3 所示的负阻特性，该现象就称为闩锁效应（闩锁本是闸流管的专有 名词） 。即双端PNPN 结在正向偏置条件下，器件开始处于正向阻 ...
电子教材-电路设计中CMOS器件闩锁的分析与对策_百度文库 2010年12月2日 ... 闩锁现象会使CMOS 器件不能正常工作，严重时损坏器件。虽然在芯片设计时已采取 一定的抗闩锁措施来避免降低闩锁产生的几率， 但如果在电路 ...
请问一下，什么是闩锁现象？？ - 维库电子市场网 2楼：, >>参与讨论. 作者： computer00 于2005-12-10 18:46:00 发布：. 看看集成电路 设计方面的资料吧由于集成电路的结构，会产生一种可控硅的 ...
ADI推出多路复用器确保无闩锁现象| Press Releases | Analog Devices 2012年8月13日 ... ADI公司的ADG5206/5207 16通道和差分8:1多路复用器可在工业、仪器仪表和过程 控制应用中确保无闩锁现象。
ADI推出多路复用器确保无闩锁现象| Press Releases | 亚德诺半导体 2012年8月13日 ... ADI公司的ADG5206/5207 16通道和差分8:1多路复用器可在工业、仪器仪表和过程 控制应用中确保无闩锁现象。
ADI推出多路复用器确保无闩锁现象 - Analog Devices 2012年8月13日 ... ADI公司的ADG5206/5207 16通道和差分8:1多路复用器可在工业、仪器仪表和过程 控制应用中确保无闩锁现象。
新型开关确保高压应用无闩锁现象，并提供业界领先的ESD保护性能 ... 2010年8月20日 ... ADG5412和ADG5413针对易于发生闩锁现象的仪器仪表、汽车应用和其它恶劣环境 而设计；闩锁是指一种可能导致器件故障的不良高电流状态， ...
CMOS器件闩锁现象分析与讨论-Good - Csdn博客 2010年7月28日 ... 闩锁现象会使CMOS器件不能正常工作，严重时损坏器件。虽然在芯片设计时已采取 一定的抗闩锁措施来避免降低闩锁产生的几率，但如果在电路 ...
CMOS器件闩锁现象分析与讨论- dp的日志- 网易博客 2011年3月23日 ... 闩锁现象会使CMOS器件不能正常工作，严重时损坏器件。虽然在芯片设计时已采取 一定的抗闩锁措施来避免降低闩锁产生的几率，但如果在电路 ...
