近場光學顯微鏡(SNOM)
AFM-近場光學顯微鏡 第 9 章 近場光學顯微鏡 (SNOM) 1. 原理 使用由熔拉或腐蝕光纖波導所製成之探針，在外表鍍上金屬薄膜已形成末端具有 15nm 至 100nm 直徑尺寸之光學孔徑 (optical aperture) 的近場光學探針，再以可作精密位移與掃描探測之壓電陶瓷材料 (piezo-electrcal ceramics) 配合 ...
AFM-近場光學顯微鏡 第9章. 近場光學顯微鏡(SNOM). 1.原理. 使用由熔拉或腐蝕光纖波導所製成之探針， 在外表鍍上金屬薄膜已形成末端具有15nm至100nm直徑尺寸之光學孔徑(optical ...
近場光學顯微鏡 顯然一般的光學顯微鏡及電子顯微鏡屬於遠場分析，而前面介紹的掃描式穿隧 ... 奈 米材料，分析奈米元件顯微結構及缺陷，近年來已應用在分析半導體雷射元件上。
近場光學新視界 涉與繞射效應。所以在傳統光學顯微鏡中，僅能獲得約二分之一個量測波長的空間解. 析度，這稱為光學繞射極限。 之後，英國的瑞賴（Lord Rayleigh）針對這一點寫下 ...
掃瞄式近場光學顯微鏡-光電模擬實驗室 掃瞄式近場光學顯微鏡(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)可偵測在金屬上具有次波長尺度之表面特徵。其圖與激發表面電漿子之方式所提之原理類似，光波經由纖維傳播至探針後與金屬表面耦合產生表面電漿子共振，因此表面特徵將轉換為電場訊號 ...
近場光學顯微鏡(SNOM) 近場光學顯微鏡(SNOM). 組員:何采宇M9710213. 周鈺翔M9710251. 蔡智凱M9710214. 陳利鴻M9610235. 目錄. 發展; 原理與架構; 工作模式; 應用與未來發展. 近場 ...
近場光學原理簡介 - 清華大學光電工程研究所 近場光學原理簡介 所謂近場光學，是相對於遠場光學而言。傳統的光學理論，如幾何光學、物理光學等，通常只研究遠離光源或者遠離物體的光場分佈，一般統稱為遠場光學。遠場光學在原理上存在著一個遠場衍射極限，限制了利用遠場光學原理進行 ...
SPM - 中央研究院物理研究所 Institute of Physics, Academia Sinica SPM 近場光學顯微術(NSOM)/原子力顯微術(AFM)的原理 近場光學顯微術是一項不受繞射極限限制的光學顯微技術，其空間解析度僅取決於偵測器的大小。在1928年，Synge首先提出此一設計概念： (sub-wavelength aperture)使用次波長孔穴於近場區域掃瞄，raster ...
近場光學在奈米科技上 之應用 在前段中我們簡單的敘述近場光學的 原理 ，知道要有超高的光學影像需有超高 的橫向波向量與近場的交互作用。為了產 生超高的橫向波向量，我們需藉由一出口 大小遠小於波長的點光源產生，一般點光 ...
