應用水準測量、GPS、地層下陷監測井與 DInSAR 測量技術監測雲林地區地層下陷 4 表 2 多重感應器監測系統之解析度與量測精度比較表 水準測量 GPS固定站 地陷監測井 DInSAR 空間解析度 1.5 - 2 km 10 - 15 km 5 - 10 km 25 m 時間解析度 1 year 1 day 1 month 35 day 垂直變動 量測精度 0.5 - 1 cm 0.5 - 1 cm 0.1 - 0.5 cm 2 cm
線上自動光學缺陷檢測(AOI)設備-勤友企業股份有限公司 線上自動光學缺陷檢測(AOI)設備可應用於各種光學基材、光學薄膜、金屬、玻璃、布、 和紙捲等各種材質。
表面檢測 - Wintriss Inspection Solutions Web Ranger表面缺陷檢測系統可以為產品線上生產提供一整套解決方案。 模組化的設計可以針對被檢產品 ...
光學晶圓缺陷檢測仍是主流- Yahoo奇摩新聞 2013年8月22日 - 雖然電子束晶圓缺陷檢測技術當紅，台灣設備廠漢微科及科磊已在電子束檢測設備市場上 ...
自動化缺陷檢測(陳啟禎).doc - 元培科技大學 故欲改善良率並減少人力的支出下，便以自動化缺陷檢測來取代現行方式。 關鍵詞： 面板、自動化檢測、 ...
光學檢測設備 - 整技科技股份有限公司 1、半導體行業：外觀缺陷、尺寸大小、數量、平整度、間隔、定位、校準、焊點品質、 彎曲度等等的檢測和測量。
漢民微測科技股份有限公司 - Hermes Microvision, Inc. 由於eScan 機型的高解析度，檢測中產生的缺陷截圖( Patch Image ) 已可以清楚顯示缺陷的位置和型態， ...
RFID 檢測 - SCHMID-YAYA Technology － AOI自動光學檢測設備 此缺陷檢測設備，可針對客戶提出的缺陷種類加以定義。紀錄每筆檢測結果及缺陷種類，並於系統中存檔 ...
光學膜缺陷檢測系統 提供各種顯微鏡、光源鏡組、金相設備、攝影機、量測軟體、一般理化儀器、分析儀器、 光學膜缺陷檢測、光學 ...
科磊行銷長：光學晶圓缺陷檢測仍是主流- 中時電子報 2013年8月22日 - 雖然電子束晶圓缺陷檢測技術當紅，台灣設備廠漢微科及科磊已在電子束檢測設備市場上 ...
