國立雲林科技大學 資訊工程研究所碩士班 碩士論文 國立雲林科技大學 資訊工程研究所碩士班 碩士論文 學習向量量化類神經網路應用於發光二極體晶圓 缺陷檢測 Learning Vector Quantization Neural Networks for LED Wafer Defect Inspection 研 究 生：張金璜 指導教授：張傳育 博士
KLA-Tencor推出晶圓缺陷檢測與再檢測系列 KLA-Tencor公司宣佈推出兩款新型的晶圓缺陷檢測系統──2830與Puma 9500，以及一款新型的電子束再檢測系統eDR-5210，以解決3Xnm / 2Xnm節點的缺陷問題。 新型2830系列寬波段明場晶圓缺陷檢測系統採用創新的大功率電漿光源，可以照亮
漢民微測自成立於 1998 年以來就致力於研發最先進的電子束檢測技術來協助提升半導體產業之良率。目前漢民 ... ... ，使用漢民微測的連續式掃描檢測系統，可以在相同或更短的時間內捕捉到缺陷在晶圓 ... 解決方案，以滿足半導體廠商的需求，在多年來的努力耕耘下，漢民微測已成為全球電子束晶圓檢測 ...
KLA-Tencor 推出專門針對 3Xnm 和 2Xnm 節點的晶圓缺陷檢測和再檢測產品系列 | 中央社訊息平台 KLA-Tencor 推出專門針對 3Xnm 和 2Xnm 節點的晶圓缺陷檢測和再檢測產品系列 (中央社訊息服務20090714 15:13:56)今日的 KLA-Tencor Corporation（納斯達克股票代碼 ：KLAC), 是專為半導體及相關產業提供製程控制與良率管理解決方案的領先提供商，宣佈推出兩 ...
國立雲林科技大學資訊工程研究所碩士班碩士論文 在半導體產業中為了獲得好的良率，在晶粒封裝前的晶圓缺陷檢測是一個很. 重要的 過程。傳統的晶圓缺陷檢測方法通常是由 ...
晶圓缺陷檢測系統-電子工程專輯 半導體設備業者應用材料(Applied Materials)宣佈推出晶圓缺陷檢測UVision系統， 該系統具備雷射3D明視野(brightfield) ...
光學晶圓缺陷檢測仍是主流- Yahoo奇摩新聞 2013年8月22日 ... 設備大廠美商科磊（KLA Tencor）昨（21）日在新竹舉行科技論壇，並發表新一代晶圓 缺陷檢測系列設備及新 ...
Quatek Co.,Ltd-News & Events-Nanotronics晶圓缺陷檢測設備研討會 報名方式：列印以下報名表，填妥後請傳真至 02-2797-3957或email至 pli@quatek. com.tw. 研討會報名表：. 公司名稱. 部門.
電子束檢測掃描晶圓缺陷- 財經- 自由時報電子報 2013年3月13日 ... 電子束檢測設備主要是對晶圓進行掃描檢測缺陷，找出缺陷並進而幫助提高良率，因 光學檢測解析度有限， ...
應材推出新款晶圓缺陷檢測系統 - CTimes 半導體製程設備供應商應用材料宣佈推出晶圓缺陷檢測系統UVision，該系統是 半導體業第一台雷射3D明視野（brightfield） ...
