探針卡知識摘要

探針卡 - DigiTimes電子時報
2012年9月7日 ... 晶圓探針卡為半導體在製造晶圓階段不可或缺的重要測試分析介面，廣泛應用於記憶 體IC(DRAM、SRAM及Flash等)、邏輯IC產品、消費性IC產品、 ...

技鼎於半導體展發表MEMS探針與探針卡技術 - DigiTimes電子時報
2014年9月4日 ... 一是應用在垂直探針卡(Vertical Probe Card)用之微機電(MEMS)探針，其具高精度、 耐磨耗等特色，且可完全客製化。另一是應用在記憶體測試之微 ...

25. 微機電陣列式晶圓探針卡
鄒慶福副教授、賴騰憲博士生. 逢甲大學自動控制工程學系. 電機與通訊工程博士學位 學程. 25. 微機電陣列式晶圓探針卡. 摘要. 探針卡的發展長久以來與積體電路的 ...

微垂直探針卡之設計與製作 - 自動控制工程學系 - 逢甲大學
逢. 甲. 大. 學. 自動控制工程學系專題製作. 專題論文. 微垂直探針卡之設計與製作. The design and fabrication of MEMS vertical probe card. 指導教授：鄒慶福. 學.

探針、探針卡新聞- 財經知識庫- MoneyDJ理財網
MoneyDJ新聞2014-11-25 11:28:18 記者編輯中心報導依據國內法人對中探針( 6217)之最新研究報告指出，公司因美系NB客戶及工業產品釋單，提升今年營運表現 ， ...

檢視/開啟 - 國立中正大學
探針卡的使用在IC 測試過程中，是相當重要的工具，透過探. 針卡之探針與晶圓特定 銲墊接觸，才能量得電路的電性，進而判. 斷出晶粒的好壞。本研究將針對現今較常 ...

Probe card - Wikipedia, the free encyclopedia
A probe card is an interface between an electronic test system and a semiconductor wafer. Typically the probe card is mechanically docked to a prober and ...