材料世界網:奈米光學檢測–高解析度近場光學顯微鏡的應用 2010年7月16日 - 1986年掃描近場光學顯微鏡(Scanning Near-field Optical Microscopy; SNOM)的發明是第一次利用近場光學技術來突破光學繞射極限，發展至今已 ...
