閎康科技股份有限公司 - Materials Analysis Technology Inc. 材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron Microscope,電子顯微鏡,Electron Microscope,SEM,掃瞄式電子顯微鏡,Scanning Electron Microscope,成份分析,EDX,EDS,電子能量損失分析儀,EELS,掃描穿透 ...
閎康科技股份有限公司> 展阻分析儀(SRP) - MA-tek 影像自動量測分析技術 ... 展阻分析儀(SRP). 主要應用領域. A.有效載子濃度(Carrier Concentration)縱深 ...
AFM-掃描式電容顯微鏡 第8章. 掃描式電容顯微鏡(SCM). 1. 原理. 利用接觸式原子力顯微鏡掃描試片，但是卻使用金屬探針，如此可讓探針及試片上的氧化層形成一個MIS電容(圖8-1) ，並於探 ...
奈米通訊。第七卷第三期26.掃描電容顯微鏡技術簡介 掃描電容顯微鏡技術簡介. 張茂男、潘扶民、*張子云、吳柏偉 國家奈米元件實驗室、*交通大學電子工程研究所. 前言. 目前，就表面分析技術而言，掃描探針 ...
掃描電容顯微鏡技術在離子佈植製程上之應用 - 國家奈米元件 ... 掃描電容顯微鏡(Scanning Cap a c i t a n c e. M i c ro s c o py， ... 模式為非接觸式，以表面形貌的掃描為主要. 目的。 .... 疊矽製程技術進展成溝渠式電容. ( t re n ch.
奈米通訊。第七卷第一期34.掃描式探針顯微鏡的新應用 利用探針與欲測樣品表面間各種不同物理作用力，引導出各式各樣的掃描式探針顯微鏡的應用，其中包含下文所介紹的掃描電容顯微鏡(Scanning Capacitance ...
掃描電容顯微鏡在半導體材料之應用- 《半導體科技．先進封裝 ... "張茂男、陳志遠、潘扶民/ 國家毫微米元件實驗室 近年來，掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscopy，SPM)技術的發展已日益多元化。其中掃描電容 ...
掃描電容顯微鏡之微分電容訊號影響變因研究 - 半導體科技 張茂男、陳志遠、潘扶民/國家奈米元件實驗室 萬文武、賴建宏、梁正宏/清華大學工程與系統科學系 掃描電容顯微鏡(scanning capacitance microscopy，SCM)雖然已 ...
掃描探針顯微鏡於軟物質與半導體之應用 掃描探針顯微鏡(Scanning Probes Microscopy; SPM)為微區量測中之有力工具， ... 本文中，將針對原子力顯微鏡(AFM)與掃描電容顯微鏡(SCM)於生物軟物質(Soft ...
掃瞄探針顯微術在奈米級表面電性上的量測與應用 此外還有延伸型工具，例如掃描式近場光學顯微鏡(Scanning Near-field Optical Microscope，SNOM) 與掃描電容顯微鏡(Scanning Capacitance Microscope，SCM) ...
