宜特科技 | 原子力顯微鏡(AFM) 宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測，FIB，零件可靠度，系統可靠度，IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 表面分析 - 原子力顯微鏡(AFM)
- 原子力顯微鏡簡介 原子力顯微鏡簡介. 掃描式探針顯微鏡(Scanningprobemicr0scopy,SPM) 是在一九 八O. 年代初期所發展出一種新的顯微鏡 ...
宜特科技| 原子力顯微鏡(AFM) - iST 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM）屬於掃描探針顯微技術（Scanning Probe Microscopy , SPM）的一種。AFM ...
下載 - 國立中央大學 本論文之重點在於使用導電式原子力顯微鏡掃描氮化鎵材料表面，藉. 由高解析度的 電流影像圖統計材料表面電流分布情形 ...
導電式原子力顯微鏡應用於光電化學水分解光電流分佈顯像之研究__ ... 本論文提出利用原子力顯微鏡探測局部光電化學水分解電流分佈的方法。我們利用在 適當濕度的環境下，原子力顯微鏡的探 ...
導電式原子力顯微鏡應用於氧化銦錫局部氧化之研究__國立臺灣海洋 ... 該奈米氧化主要是施加一偏壓於原子力顯微鏡(atomic force microscope, AFM)之 導電探針上與ITO間，運用原子力顯微鏡的 ...
國立雲林科技大學光電工程所碩士班碩士論文 飽和磁化量(Ms)。第二部分則為使用導電式原子力顯微鏡量測鑄型化元件的討. 論， 並使用下壓探針的方法，可以得到更穩定 ...
科儀新知目錄索引 - 國研院儀科中心 - 國家實驗研究院 共查得4 筆資料。 目前顯示第1 筆至第4 筆。 導電式原子力顯微鏡在IC 製程及故障 分析之應用 莊榮祥, 李仲, 吳兆奇, 黎聰徳, ...
Conductive atomic force microscopy - Wikipedia, the free encyclopedia Conductive atomic force microscopy (C-AFM) is a variation of atomic force microscopy (AFM) and scanning tunneling microscopy (STM), which uses electrical ...
ORCA - Conductive AFM - Asylum Research Conductive AFM Imaging Using the MFP-3D™ AFM. Conductive AFM is a powerful current sensing technique for electrical characterization of conductivity ...
