::: 國立中央大學 - 研究發展處 ::: 1. TEM十繞射：3,000/時段 ( 操作以三小時為一時段計 ) 2. 持有執照：2,000元/時段( 操作以三小時為一時段計 ) 3. EDS+Mapping+Linescan：1,500元/時段( 操作以三小時為一時段計 ) 4. 持有執照： 500元/時段( 操作以三小時為一時段計 )
場發射掃描式電子顯微鏡 - 義守大學 FE-SEM 場發射掃描式電子顯微鏡. 機型：Hitachi-4700，EDS機型：HORIBA. Ⅰ. 0.5 ~30KV. Ⅱ. 電子光源：冷場發射電子槍. Ⅲ. 放大倍率：X 10 ~ X 500k. Ⅳ. 高解像能 ...
場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM) - 國立中興大學材料科學與工程學系 2013年1月18日 ... 財產(設備)(場地)名稱, 場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM). 用途, 場發射掃描式 ... 電子槍型式：冷場發射放大倍率：25~650,000倍 講義及操作手冊 ...
宜特科技| 掃描式電子顯微鏡(SEM) - IST 掃描式電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要利用電子光學系統將 電子槍產生的電子聚焦成一微小的電子 ...
:::: 益弘儀器股份有限公司 :::: 公司簡介 吸收國外高科技知識, 回饋國內學術界及產 業界最佳的售前與售後服務, 以分享共同升 級的喜悅。
場發射掃瞄式電子顯微鏡 - 中原大學 利用加負壓於金屬尖端上，以強電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子束，在極高 的真空中操作(-10~10torr)可得到高品質 ...
貴重儀器資料 儀器名稱 指導教授/電話 技術人員/電話 地點 共用實驗室 化 學 系 基質輔助雷射脫附游離飛行質譜儀 Bruker Autoflex III TOF/TOF 謝建台教授 (07)5252000 ext. 3933 卓怡孜 (07)5252000 ext. 3933 理學院化學館一樓C1004室
FE-SEM ‧場效發射式掃描電子顯微鏡Multi- functional Field-Emission Scanning Electron Microscope. ‧多功能場發射掃描式電子 ...
FE-SEM - 國立中正大學貴重儀器中心 場發射掃描式電子顯微鏡【FE-SEM; ... 加速電壓：0.1~30 KV；放大倍率：30~800,000 X；發射源：冷陰極電子槍；試片尺寸：100 ...
