閎康科技股份有限公司 > C-AFM - Materials Analysis Technology Inc. C-AFM從字面上來看,與原子力顯微鏡(atomic force microscope,簡稱 AFM)的原理其實類似,而 AFM 的原理為利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針和原子之間的作用力,從而達到檢測的目的,具有原子級的解析度。
宜特科技 | 原子力顯微鏡(AFM) 宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠度,IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 表面分析 - 原子力顯微鏡(AFM)
國研院奈米元件實驗室 National Nano Device Laboratories ... 一、系統規格及型號: 機型:NT-MDT Solver P47 (SP-47) 成像模式:原子力顯微鏡(AFM)及掃描電流顯微鏡(C-AFM)
半導體科技.先進封裝與測試雜誌 - 利用先進臨界尺寸原子力顯微鏡進行光罩蝕刻後之三維量測 - Semicondutor Magazine 10pt 3>針對量測臨界尺寸之需求,已開發出新一代的原子力顯微鏡技術。藉由導入各項新型技術,諸如複合式探針設計、自動化探針校準能力以及表面取樣方式改進等,新世代臨界尺寸原子力顯微鏡(以下簡稱CD AFM)可相當精準地量測出光罩幾何數據。研究 ...
理科企業, 成份分析, 繞射, 螢光, 太陽能電池, 小角散射, 薄膜, 電漿X光, 微區, 奈米, 應力,殘留應力,電子顯微鏡 ... 成份分析,CIGS, XRD, WDXRF, EDXRF,XRF, DSC, 理科企業, 繞射, 螢光, 微區, 太陽能電池, 應力,殘留應力, 小角散射, 薄膜, 電漿X光, 奈米, 電子顯微鏡, 製藥, 原子力顯微鏡, CIGS, 膜厚, 晶格, 結晶, terahertz, PNP, Fluxana, 拉曼光譜, 雷射共軛焦, 掃描探針, Rigaku ...
掃描探針顯微術的原理及應用 - 中研院物理研究所 - Academia ... 的優點是,藉由選取適當的探針,可探討物質表面上奈米等級的物理及化學性質,目前已有. 數十種不同的SPM ... 子及生物分子的檢測(8-11),AFM 中的探針懸臂是利.
掃描探針顯微技術(AFM).doc 掃描探針顯微技術(Scanning Probe Microscopy:SPM)係指具有『掃描機制與動作』及『微細探針機制』的顯微技術;而原子力顯微鏡(1986年誕生)為掃描探針顯微 ...
AFM probe 原子力掃描探針 - 比亞特有限公司 今天是2014年11月5日星期三. 返回首頁; 設為首頁; 加入收藏; English · Application Document 應用文件 Technical information 技術相關 Technical Service info 技術 ...
AFM Probes | AFM Cantilever | AFM Tips - Bruker AFM Probes The leading manufacturer of AFM Probes for all types of applications and AFM modes including Bruker's unique PeakForce Tapping Mode.