光學量測實習報告 光學平板(鏡) 量測實驗-單色光干涉實驗 一、實驗目的 本實驗主要目的在了解 光學平板 量測之 原理 ...
提高液晶間隙厚度量測準確性 多通道光譜儀把關 - 學技術 - 新電子科技雜誌 近幾年液晶顯示器需求的大幅成長，帶動面板廠建廠以增加面板產能，而自動光學檢測則默默扮演提升面板產能及品質的關鍵角色。 圖1液晶面板MURA現象，造成顯示影像光強度不均勻 液晶面板模組中的液晶間隙(Liquid Crystal Cell
半導體科技.先進封裝與測試雜誌 - 微電子之品質管理 量測儀器(Metrology)Tools提供之解決辦法 - Semicondutor Magazine Thomas Fries, Paul Flynn, Paul Lamm, FRT of America 生產微米或者奈米元件製程中具備次奈米之精準度(為金原子半徑的範圍)是必要的。不過，要在整合及組裝過程中有如此精確之生產精準度幾乎是不可能的。 測量微電子元件精準度及定位精準度的儀器需有奈米 ...
==宏明科技==NIR近紅外光穿透率/反射率光譜儀,薄膜厚度儀, solar cell efficiency, IPCE, EQE, IQE, Micro-Crack, 日光模擬 ... Specification 量測項目 穿透率霧度、反射率霧度、全光譜穿透率、擴散光穿透率、平行光穿透率反射率、CIE 色度座標 適用樣品 TCO 薄膜太陽能電池機板 (FTO、ITO)
光學式薄膜及基材厚度量測系統-勤友企業股份有限公司 此系統可量測待測物之3D表面輪廓、薄膜厚度及表面粗糙度，並可依客戶需求客製化 ... 本技術係利用軸向色散原理，以複合波長光在表面上掃描，不同波長光的焦點 ...
橢圓偏振技術- 維基百科，自由的百科全書 橢圓偏振技術（ellipsometry）是一種多功能和強大的光學技術，可用以取得薄膜的介 ... 它常被用來鑑定單層或多層堆疊的薄膜厚度，可量測厚度由數埃（Angstrom）或數奈 .... 其所用的理論為古典歸零式橢圓偏振原理，及即時的橢圓偏振對比影像，使用 ...
橢圓偏光術於ITO透明導電膜量測應用（下） 3-1 橢偏術量測基本原理. 橢偏儀之基本構想奠基 ... 橢圓偏光儀量測技術及其於ITO薄膜之量測。 文／ 盧宥任、 ... 光學及厚度參數，代入演算方程中. 運算，求其對應之 ...
光學薄膜厚度量測技術之研究 Keywords: 干涉儀橢圓偏振儀薄膜厚度量測. Issue Date: 22-Apr-2010. Abstract: 摘要....................................................................................................................................1 圖 ...
