穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM） 穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM） 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學物理學系洪連輝教授責任編輯 A.TEM簡介 自1930年代第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來，由於影像解析度受限於所供輸電子能量，隨著高壓設備 ...
干涉 (物理學) - 維基百科，自由的百科全書 此外，從平行平面板下表面透射的兩束平行光也會形成等傾干涉，但由於不存在反射相變，相位差 不需要添加 項，從而導致透射光的干涉條紋的明暗位置與反射光完全相反。 等厚干涉 [編輯] 薄膜的等厚干涉光路圖 若等傾干涉中的平行平面板兩個表面不 ...
閎康科技股份有限公司> 穿透式電子顯微鏡(TEM) - MA-tek 材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透 電鏡,Trasmission Electron Microscope,電子顯微鏡,Electron Microscope,SEM,掃瞄 ...
物理學名詞.xls (中英對照) - ::::: 歡迎光臨東吳大學 ::::: Sheet3 Sheet2 Sheet1 (一)分接；(二)分接頭 等時[降落]曲線 泰勒-庫埃特流 遠心光闌 遠心系統 電信方程[式] 遠震 (地科) TEM (=transmission electron microscope) (一)回火度；(二)含碳量 (一)韌性；(二)韌度
AEEA : 詞彙 恆星類： 中子星 中子星的噴流 黑洞 黑洞噴流 類星體 波霎 紅巨星 白矮星 棕矮星 恆星光譜分類 赫羅圖 主序星 色指數 亮星類： 參宿七 畢宿五 天狼星 心宿二 軒轅十四 天津四 河鼓二(牛郎星) 織女星
閎康科技股份有限公司 > X光光電子能譜儀 (XPS/ESCA) X光光電子能譜儀 (XPS/ESCA) 技術原理 材料經由帶有能量的X光照射後形成光電效應，將內層軌域的電子激發產生光電子，只有在樣品表面所產生的光電子才能脫逸出而被測得，此被激發的光電子經偵檢器分析後，可測得光電子束縛能的能譜，由於不同元素 ...
歐傑電子能譜儀 (AES) - 宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測，FIB，零件可靠度，系統可靠度 ... 歐傑電子光譜儀(AES)是一種分析材料表面組織形態及化學結構的儀器，可適用於電機、機械、電子、材料、化學、化工等研究領域。其原理為利用電子束為激發源，當原子的內層電子受激發而脫離原子時，原子的外層電子將很快的遷降至內層電子的空穴並 ...
33---2 X2 X 光微區分析 EDS) - 台灣大學化學系 4 33---2 X2 X光微區分析(EDS) 1.. 引言 X 光微區分析( X- ray microanalysis) 包括試片 微小體積內X光的激發，可藉由激 發的X光之收集、分析而決定試片 某㆒部份 的組成。X光微區分析裝置有兩種，㆒種為波 長散佈光譜儀( wavelength dispersive
ChromNet ABDC 在2012年開始與大陸最具規模的 氣相層析質譜儀, 液相層析質譜儀, 感應偶合電漿質譜儀 生產工廠 , 江蘇天瑞儀器股份有限公司 (Skyray) 進行產品及市場行銷及服務的合作.
閎康科技股份有限公司 > X-光檢測(X-ray) 技術原理 基本上，X-ray成像的方式，是利用穿透過被照射物體的X-ray，經過映像裝置而形成可見影像，主要用來觀察IC中含金屬材質或結構是否有異常，舉凡 打線，銀膠，花架等。 機台種類 閎康科技目前擁有新型X-ray機台：Fen Focus FXS-160.40 TIGER X ...
