德芮克國際股份有限公司 拉力機、Malvern、Zetasizer Nano Series、奈米粒徑分析儀、動態光散射PCS、界面電位分析儀、 Mastersizer系列、雷射繞射粒徑分析儀、CGS3、Bohlin 系列、 Goniometer、雷射多角度光散射儀、黏度計、流變儀系列、 Wyatt Technology、DAWN 線上準分子量量 ...
元正儀器股份有限公司 人體 紅外線熱像儀 Fluke 粒徑分析 溫度 壓力 電量 校正 INSTECH INSTRUMENT CO., LTD. 第十二屆台北國際儀器展 2013年不容錯過的儀器界年度盛事『第十二屆台北國際儀器展』,元正儀器將於B區1228、1327攤位展示,歡迎各界先進蒞臨指教。 展覽地點:台北世界貿易展覽中心 展覽地址:台北市信義區信義路五段五號
粉體特性/粒徑/影像/吸附分析/漿料分析評價專業/磐拓國際 磐拓公司累積多年粉粒體技術研究經驗,持續開發最新評價標準的各式分析儀及尖端材料,給您更超值的專業服務! 磐拓公司累積二十年以上粉粒體技術研究之經驗,致力開發最符合世界潮流及最新評價標準的各式粉體分析裝置及尖端粉體材料,期望帶 ...
分光光度計、蠕動泵浦專業廠商-【矽新科技有限公司】-分光光度計儀器組件、蠕動泵浦設備、蠕動泵浦軟管 ... PC系統與單機雙作業平台 圖形介面軟體好用易學 簡單耐用產品可靠 快速分析3.5秒 溫控與震盪功能 內置超大記憶體隨 機附贈電腦操作軟體
奈米粒徑分析儀Dynamic Light Scattering Nanoparticle Size - HORIBA動態光奈米粒徑分析儀最新機種nano Partica SZ-100正式與您見面! 藉由單一奈米粒子的分析測量,具備高敏度、高精確度之特性,並且可同時測量粒徑、Zeta ...
HORIBA 動態散射Zeta電位及粒徑分析儀 SZ-100_nano partica_分子量 中文字幕 全拓科技 - YouTube 測量範圍最廣、樣品量最少、重複性最高 粒徑、zeta電位、分子量三合一 【動態散射Zeta電位及粒徑分析儀】 型號:SZ-100 特色 擁有廣泛的粒徑分析範圍,並可測量zeta電位及絕對分子量 操作簡單,測量快速,約只需2分鐘即可完成 特殊開發多角度 ...
粒徑分析儀採用標準規範- - 磐拓國際股份有限公司 本公司代理的各類型粒徑分析儀,包含HORIBA粒徑分析儀, OCCHIO影像粒徑形狀分析儀, CPS離心沉降粒徑分析儀等產品, 係採用符合下列不同國際檢驗標準規範來 ...
粒径分析- HORIBA "粒度分析仪激光散射 LA-960激光粒度仪- 高性能激光衍射分析仪 LA-960采用米氏散射(激光衍射)理论检测悬浮液或干粉的粒度。该技术的快速测量和简单操作等 ...