AFM-原子力顯微鏡(奈米壓痕)奈米科技應用介紹 原子力顯微鏡(奈米壓痕). 奈米科技應用介紹. (一). 應用在半導體產業. 近年來極大型 積體電路(ULSI)的蓬勃發展,造成晶片上 ...
歐傑電子能譜儀 (AES) - 宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠度 ... 歐傑電子光譜儀(AES)是一種分析材料表面組織形態及化學結構的儀器,可適用於電機、機械、電子、材料、化學、化工等研究領域。其原理為利用電子束為激發源,當原子的內層電子受激發而脫離原子時,原子的外層電子將很快的遷降至內層電子的空穴並 ...
閎康科技股份有限公司 > C-AFM - Materials Analysis Technology Inc. C-AFM從字面上來看,與原子力顯微鏡(atomic force microscope,簡稱 AFM)的原理其實類似,而 AFM 的原理為利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針和原子之間的作用力,從而達到檢測的目的,具有原子級的解析度。
宜特科技 | 原子力顯微鏡(AFM) 宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠度,IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 表面分析 - 原子力顯微鏡(AFM)
國研院奈米元件實驗室 National Nano Device Laboratories ... 一、系統規格及型號: 機型:NT-MDT Solver P47 (SP-47) 成像模式:原子力顯微鏡(AFM)及掃描電流顯微鏡(C-AFM)
Nanosensors - Official Site NANOSENSORS uniqprobes screencast – drift-reduced uniform-quality AFM probes for biology and life science applications Neuchâtel, June 22nd, 2014 NANOSENSORS announced that a screencast explaining the advantages of a completely new SPM ...
- 原子力顯微鏡簡介 原子力顯微鏡簡介. 掃描式探針顯微鏡(Scanningprobemicr0scopy,SPM) 是在一九 八O. 年代初期所發展出一種新的顯微鏡 ...
AFM probes, AFM tips, AFM cantilevers Offers a choice of cost efficient silicon AFM probes for tapping, force modulation and contact mode measurements.
原子力顯微鏡 - 高瞻自然科學教學資源平台 - 國立臺灣大學 A. 原子力顯微鏡介紹 藉由AFM人們將第一次直觀地看到了原子、分子,被人們稱為可以看得見 ... 這當中的原理是感測原子之間的凡得瓦力作用來進一步呈現樣本的表面特性,可以由圖1得知:
遊走奈米大觀園—原子力顯微鏡(AFM) 大綱. ▫ 簡介. ▫ 原子力顯微鏡之原理. ▫ 原子力顯微鏡之實驗設備. ▫ 相關實驗結果. ▫ 原子力顯微鏡之應用.