電晶體－電晶體邏輯 - 維基百科，自由的百科全書 TTL各系列典型消耗功率 與傳輸延遲的比較 [編輯] 系列 型號 特徴 消耗電力(mW/Gate) 傳輸延遅 t pd (nsec ... 但消耗電力大。 20 6 蕭特基TTL 74S 使用蕭特基二極體與蕭特基電晶體的高速TTL 20 3 低功率蕭特基TTL 74LS 1970年代後半至80年代前半的主流TTL 2 ...
物理學名詞.xls (中英對照) - ::::: 歡迎光臨東吳大學 ::::: Sheet3 Sheet2 Sheet1 (一)分接；(二)分接頭 等時[降落]曲線 泰勒-庫埃特流 遠心光闌 遠心系統 電信方程[式] 遠震 (地科) TEM (=transmission electron microscope) (一)回火度；(二)含碳量 (一)韌性；(二)韌度
AEC-Q200被動(無源)組件應力測試認證規範 標題： 內容說明： 電動機車與電動機車馬達試驗規範整理 電動機車與電動機車馬達試驗規範整理 AEC-Q200試驗條件 AEC-Q200 試驗條件 AEC-Q200被動(無源)組件應力規範 AEC-Q200 被動(無源)組件應力測試規範
FIB Man HomePage - PEM介紹 熱載子能量釋放(Relaxation accompanied with light emission) 說明: 一可移動載子(mobile charge carriers,可為電子或電洞)經過電場加速取得足夠的動能(kinetic,熱載子), 利用光將其累積的動能釋放 此為PEM測得的主要光來源
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閂鎖效應- 台灣Wiki 閂鎖效應是由NMOS的有源區、P襯底、N阱、PMOS的有源區構成的n-p-n-p結構產生的，是CMOS工藝所特有的寄生效應，嚴重會導致電路的失效，甚至燒毀晶元。
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AEC-Q100 - 基於積體電路應力測試認證的失效機理 標題： 內容說明： 電動機車與電動機車馬達試驗規範整理 電動機車與電動機車馬達試驗規範整理 AEC-Q200試驗條件 AEC-Q200 試驗條件 AEC-Q200被動(無源)組件應力規範 AEC-Q200 被動(無源)組件應力測試規範
宜特科技 | IC靜電防護及閂鎖試驗(ESD &Latch-up) 宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測，FIB，零件可靠度，系統可靠度，IC壽命 測試等服務。 - 可靠度 ...
闩锁效应（latch up） 第一部分latch up 的原理. 我用一句最简单的话来概括，大家只要记住这句话就行了： latch－up 是PNPN 的连接，本. 质是两 ...
