漢民微測科技股份有限公司 - Hermes Microvision, Inc. 漢民微測科技股份有限公司自成立以來致力於電子束檢測儀器 ( E-beam Inspection Tool ) 的研發、製造及技術服務，為半導體檢測設備之領導廠商，率先跨入高階設備研發與國際大廠抗衡，以獨家的跳躍式檢測、及穩定的電子槍技術領先全球。主要的產品為 ...
漢民微測科技股份有限公司 - Hermes Microvision, Inc. 由於eScan 機型的高解析度，檢測中產生的缺陷截圖( Patch Image ) 已可以清楚顯示缺陷的位置和型態， ...
科磊行銷長：光學晶圓缺陷檢測仍是主流- 中時電子報 2013年8月22日 - 雖然電子束晶圓缺陷檢測技術當紅，台灣設備廠漢微科及科磊已在電子束檢測設備市場上 ...
漢民微測科技股份有限公司 - 財經百科 - 財經知識庫 - MoneyDJ理財網 漢民微測 科技股份有限公司。 請參考 漢民微測 科技股份有限公司 (一)公司簡介 1.沿革與背景 漢民 ...
漢民微測科技股份有限公司 - MoneyDJ理財網 (一)公司簡介. 1.沿革與背景. 漢民微測前身為1998年於美國矽谷成立之Hermes Microvision, Inc. ，係研發電子束晶圓檢測 ...
半導體科技.先進封裝與測試雜誌- 自動檢測系統可提高3D IC的良率及 ... 以今日發展來說，三度空間積體電路（3D IC）似乎是檢測系統及方法下一個技術躍進 的驅動力。3D IC是把兩層或以上的晶片 ...
[技術專文] 發光二極體晶圓缺陷檢測的發展 - 《化合物半導體·光電技術》雜誌 此外，光電元件製程的成本結構及成熟度與IC產業有相當大的不同。基於這些因素，光電晶圓製程運用自動化缺陷檢測 技術的比例，遠不及矽晶圓製程。不過，這種狀況正迅速地在改變，主要的原因來自於降低成本與提高良率的需求。光學表面分析(Optical ...
國立雲林科技大學 資訊工程研究所碩士班 碩士論文 國立雲林科技大學 資訊工程研究所碩士班 碩士論文 半徑基底函數(RBF)類神經網路應用於LED 晶圓 缺陷檢測 Radial-Basis Function Neural Networks for LED Wafer Defect Inspection 研 究 生：張詠棨 指導教授：張傳育 博士
電子束檢測 掃描晶圓缺陷 - 財經 - 自由時報電子報 電子束檢測設備主要是對晶圓進行掃描檢測缺陷，找出缺陷並進而幫助提高良率，因光學檢測解析度有限，約在六十五奈米製程就會遭遇瓶頸，漢微科的電子束檢測採跳躍式結合電子槍技術，適用四十、二十八、二十及十奈米等
光學晶圓缺陷檢測 仍是主流 - Yahoo奇摩新聞 設備大廠美商科磊（KLA Tencor）昨（21）日在新竹舉行科技論壇，並發表新一代晶圓缺陷檢測系列設備及新技術。科磊行銷長Brian Trafas表示，由半導體主流製程的微縮轉換趨勢來看，電子束檢測並無法取代光學檢測，尤其晶圓廠在
