AFM在表面粗度上的量測與優勢 - 10/07/2014 09:46:46 am +0800 - Open WebMail AFM在表面粗度上的量測與優勢 一、表面粗度（Surface roughness）的定義 二、量測表面粗度的儀器及其原理簡介 三、AFM的工作原理 四、AFM所具備的優勢 五、結論 參考文獻 一、表面粗度（Surface roughness）的定義 (1)
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電性量測實作 四點探針量測最早是在1954 年被Va ld e s 應用於半導體. 晶片之電阻率的 ... 渦流 探傷的發現是以電磁感應原理為基礎的一種檢測方法，根據電磁感應的理論，導體在.
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四點探針 - 國立中興大學 2013年5月6日 ... 機台原理. Page 7. 2013/5/6. 四點探針機台原理. ◇ 利用外側兩探針間加固定電流， 並同時量測另外兩個. 內探針間之相對電壓計算其電性。(破壞性 ...
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