半導體測試簡介 半導體IC測試基本名詞介紹. • Probe Card:針測板. • Socket:IC測試時承載之基座. • Bin:IC分類之稱呼. • Change Kit:變異製具. • Lead Scan:掃腳機. • Ball Scan:掃球機.
白安鵬--半導體積體電路測試技術部落格: A 半導體積體電路測試概論 第三章 開路與短路測試 第三章 開路與短路測試 開路與短路測試(Open/Short test)，也稱為連續性測試(Continuity test)或稱連接測試(Contact test)。此測試項目的主要目的，是要確認所有待測物的接腳，是否正確地連接到IC內部電路。並確認沒有任何的接腳，與其它的接腳短路，或 ...
開啟檔案 積體電路製造流程. 電路設計→晶圓→光罩製作→晶片製造→晶片封裝. IC封裝流程. IC測試在IC製程中的位置. 測試. 把一已完成的半導體元件或IC進行結構及功能的 ...
半導體科技.先進封裝與測試雜誌-半導體資訊|半導體新聞|半導體方案|半導體評測|半導體信息|封裝技術|半導體 ... 半導體科技是唯一獲美國 Solid State Technology 及 Advanced Packaging 領域授權華文同步編輯之媒體。是一本以華文發行亞洲固態技術與封裝測試領域之專業技術情報雜誌，已獲 ...
IC 半導體 導體的電路特性，其導電有方向性，使得. 半導體可用來製造邏輯線路，而使電路有. 處理資訊的功能。 半導體產品可分為積體電路(IC)、分離式. 元件、光電半導體等 ...
白安鵬--半導體積體電路測試技術部落格 白安鵬 姓名白安鵬,學習半導體積體電路的相關測試技術, 也有一段時間了. 希望將個人的學習心得與大家來分享, 並期望前輩們能不吝指教! 有緣到FaceBook加我當朋友喔! 檢視我的 ...
又傳興業-PCB探針probe,萬用針,線針,IC測試雙頭針,pogopin,semiconductor probes 專業設計製造PCB探針probe,萬用針,線針,測試治具週邊耗材,IC測試雙頭針,pogopin,半導體封裝測試探針semiconductor probes ... You Chuan Test Technology Co., Ltd. ISO 9001 CERTIFIED 專業設計 / 製造探針、插座、導柱、牛角、萬用針、線針、半導體雙頭針...
半導體/IC測試解決方案| 致茂電子Chroma ATE Inc. VLSI Test System,SoC Test System,Pin Electronics Module,Four-quadrant DUT Power Supply,LCD Driver IC Test System,Hybrid Single Site Test Handler,ASFT ...
PXI 半導體/IC 測試系統| 致茂電子Chroma ATE Inc. 世界領先的自動測試設備(ATE)自有品牌供應商。主力重點為電力電子、被動元件、電氣安規、視頻＆色彩、液晶面板/模組、汽車用電子設備與半導體等行業的測試和 ...
半導體IC測試產業經營績效分析__國立交通大學博碩士論文 ... IC測試在半導體工業是一個很重要的製程，到目前為止也暫時沒有任何取代方法，本研究認為IC測試業會跟半導體工業長存，故本研究先行了解整個供應鏈的上下游 ...
